مطالعه اثر دما روی خواص اپتیکی لایه های نازک مس و نقره به روشهای بیضی سنجی و کریمز-کرونیگ
thesis
abstract
در این پروژه اثر دمای زیرلایه هنگام لایه نشانی روی ثابتهای اپتیکی لایه های نازک cu و ag در بازه طول موج(2600nm - 200 ) بررسی شده اند. در این پروژه از دو روش برای اندازه گیری ثابتهای اپتیکی نمونه ها استفاده شد. اولین روش ، روش کریمرز- کرونیگ است که با استفاده از داده های تجربی بازتابندگی تحت تابش عمودی در بازه پهنی از طول موج، ثابتهای اپتیکی اندازه گیری می شوند. دومین روش روش بیضی سنجی است . در این روش از این حقیقت که نور قطبیده تخت پس از برخورد با سطح نمونه در حالت کلی به صورت قطبیده بیضوی برمی گردد استفاده شده و با اندازه گیری پارامترهای بیضی قطبیدگی(نسبت قطرها و سمتگیری بیضی) باریکه بازتابیده از سطح نمونه و ارتباط برقرار کردن ثابتهای اپتیکی نمونه با این پارامترها ثابتهای اپتیکی نمونه اندازه گیری شده اند.
similar resources
مطالعه خواص اپتیکی لایه های نازک به روش بیضی سنجی
در این تحقیق، لایه¬های نازک اکسید ایندیم قلع (ito) به روش تبخیر با پرتو الکترونی واکنش¬پذیر بر روی زیرلایه¬های شیشه¬ای لایه¬نشانی شده¬اند. لایه¬های نمونه با ضخامت¬های اسمی 100، 150 و 250 نانومتر با نرخ انباشت ثابتnm/s 10/0 تهیه شدند. دمای زیر لایه¬ها در خلال لایه¬نشانی در دمای اتاق نگه داشته شد. با استفاده از روش بیضی¬سنجی ثابت¬های اپتیکی، ضریب شکست(n)، ضریب خاموشی (k) در گستره طول موج 370 تا 1...
15 صفحه اولبررسی خواص اپتیکی لایه های نازک مس بر زیرلایه شیشه با روش کرایمرز کرونیگ
مس با خلوص 99.97% را در ضخامت های متفاوت بر زیرلایه شیشه، به روش تبخیر در خلاء با آهنگ 2aº/sec رشد داده ایم. طیف ضریب بازتاب (r) نمونه ها را در فرود تقریبا عمود در بازه طول موج 200nm<λ<3000nm با دستگاه طیف سنجی 500 carry به دست آوردیم و با استفاده از آن، بخش حقیقی و موهومی ضریب شکست (n و k) و ضرایب دی الکتریک (ε2وε1) را با روش کرایمرز کرونیگ (k.k.) به دست آوردیم و با نمونه حجمی مقایسه کردیم. نت...
full textبررسی خواص اپتیکی لایههای نازک مس بر زیرلایه شیشه با روش کرایمرز کرونیگ
Different thicknesses of 99.97% Cu are deposited on glass substrate by thermal evaporation method at the rate of 2A˚/sec. Kramers-Kronig method is used for the analysis of the reflectivity constant in the range of 200nm<λ2eV, by increasing the thickness, the imaginary part of refraction index, k, increases and real part, n, decreases. At higher energies, both constants reach the asymptotic valu...
full textاندازهگیری ویژگی‌های اپتیکی غیرخطّی لایههای نازک نانوساختاری مس و روی
در این مقاله لایههای نازک نانوساختار مس و روی به روش لایه نشانی لیزر پالسی تهیه شده و ضرایب جذب و شکست غیرخطی این لایه‌ها با استفاده از روش روبش- z اندازهگیری و بررسی شده است. جزئیات پارامترهای لایه نشانی لیزر پالسی برای هر دو فلز مس و روی ارائه شده است. برای انجام آزمایش روبش- z از لیزر موج اندازۀ ضریب جذب و ضریب شکست غیرخطی لایههای نازک نانوساختاری مس و روی به کمک نمودارهای آزمایش روب...
full textاندازه گیری ویژگی های اپتیکی غیرخطّی لایه های نازک نانوساختاری مس و روی
در این مقاله لایههای نازک نانوساختار مس و روی به روش لایه نشانی لیزر پالسی تهیه شده و ضرایب جذب و شکست غیرخطی این لایه ها با استفاده از روش روبش- z اندازهگیری و بررسی شده است. جزئیات پارامترهای لایه نشانی لیزر پالسی برای هر دو فلز مس و روی ارائه شده است. برای انجام آزمایش روبش- z از لیزر موج اندازۀ ضریب جذب و ضریب شکست غیرخطی لایههای نازک نانوساختاری مس و روی به کمک نمودارهای آزمایش روبش-...
full textبررسی خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک اکسید ایندیم قلع
در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیم قلع (ITO) به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیرلایه های شیشه ای. با ضخامت‌های اسمی 50، 100، 170 و 250 نانومتر، با نرخ انباشت ثابت 10/0 نانومتر بر ثانیه لایه نشانی شده اند. دمای زیرلایه ها در خلال لایه نشانی در دمای 400 درجه سانتیگراد ثابت نگه داشته شد. از تکنیک های پراش پرتو ایکس (XRD) و بازتاب سنجی اشعه ایکس (XRR) برای آنالیز ساختاری لایه های نازک اس...
full textMy Resources
document type: thesis
وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه تهران - دانشکده علوم
Hosted on Doprax cloud platform doprax.com
copyright © 2015-2023